關於碳勢的兩點校準

        氧探頭本身並不存在兩(liang) 點校準。兩(liang) 點校準的意思是對氧探頭的測量值進行校準。
        因為(wei) 無論常規氧探頭還是Lamdba探頭，都會(hui) 隨著時間的推移出現老化或者受到汙染，導致其給出的m號不準，因此根據該信號計算出來的碳勢也會(hui) 是錯誤的，所以必須對數值進行校驗。要進行校驗，必須進行參比測量（請參見附件資料：參比測量）。然後將校驗值輸入碳控儀(yi) （MESA型號Carbomat-M，Carbo-M）或者碳勢計算儀(yi) （MESA型號Carbo47，Carbo15）

    在熱處理工業(ye) 爐的氣氛控製中，必須通過直接測量方法（比如MESA定碳儀(yi) ）對氧探頭或者Lambda探頭的信號計算出的碳勢進行校準。大多數的碳控儀(yi) 都有“一點校正”功能對碳勢進行補償(chang) 或者校準。對於(yu) 有穩定碳勢和穩定溫度的熱處理過程來說，這種校準是的。

     但是對於(yu) 滲碳工藝來說，由於(yu) 其溫度和碳勢是不斷變化的，因此這種“一點校正”就不能滿足需求。

     氧探頭測量誤差常常是由於(yu) 探頭陶瓷部分出現非常細微的裂縫導致的，隨著溫度的變化，裂縫會(hui) 逐漸加大。因此在不同的溫度條件下，探頭的測量誤差也是不同的。如果溫度較高（比如920℃），碳勢為(wei) 1.2%C，在此情況下校正碳勢，測量結果及相應控製都是非常的。

     可是，當溫度和碳勢降低的時候，探頭的工作和校正都是不同的，數值就不再準確。 使用MESA的碳控儀(yi) Carbomat-M或Carbo-M（如圖），就很容易通過碳箔定碳測試來完成兩(liang) 點校準。在使用碳箔片進行校準時，如果溫度變化超過30℃，控製器會(hui) 將這些數值作為(wei) 兩(liang) 個(ge) 不同的點來處理。否則，*次校準的數值會(hui) 被第二次校準的數值所覆蓋。如果要進行碳箔定碳測試，我們(men) 建議滲碳溫度在920℃左右，碳勢為(wei) 1.2%C，硬化溫度在880C，碳勢為(wei) 0.80%C。中間的數值會(hui) 被自動插入修改。這樣就能保證整個(ge) 工作過程中碳勢測量和控製都是非常的。